-Grupo GFA de la Universidad Politécnica de Madrid:

• Cámara limpia: línea de fabricación de dispositivos de cristal líquido y OLEDs
• Fotolitografía, serigrafía, evaporación térmica
• Laboratorio de caracterización electroóptica
• Caracterización de láseres y detectores de IR
• Espectroscopía con resolución temporal y angular
• Interferometría de fase
• Generadores arbitrarios de onda ±100 V
• Analizador de redes (3 GHz)
• Generador arbitrario de señales (2 × 200 Ms/s)
• Osciloscopio digital (8 Gs/s)
• Analizador de redes de transmisión digital

-Departamento de Metrología del CSIC:

• Laboratorio de Fotometría, Radiometria y Fibras Ópticas (Laboratorio de calibración de la Red de Laboratorios de la Comunidad de Madrid)
• Cámaras CCD para radiometría de emisores
• Láseres (longitud de onda fija y sintonizables) en UV-VIS NIR
• Fuentes incoherentes en fibra con alta potencia
• Láseres sintonizables en fibra basados en Raman y otros efectos no lineales. Alta potencia
• Caracterización de elementos ópticos entre 200 y 2500 nm. Posibilidades de hacerlo en diferentes ángulos, sobre superficies 2D
• Caracterización de fuentes y detectores de radiación óptica (UV-VIS-IR cercano)

-Grupo GDAF de la Universidad Carlos III de Madrid:

• Analizador de componentes ópticos de 20 GHz (Agilent Technologies 86030A) @ 1550 nm
• Láseres DFB sintonizables de 1400-1600 nm
• Modulador óptico externo MZ a 2GHz
• Analizador de espectros de RF hasta 3 GHz con generador de tracking externo
• Analizador de Impedancia y Ganancia/fase HP-4192A (rango de frecuencias 100Hz-40 MHz)
• Osciloscopio digital 4 canales, 2Gs
• Espectrómetro VIS-NIR con CCD de alta resolución
• Microscopio de polarización termostatizado con control de tª programable
• Equipo de desarrollo de micros de ATMEL
• Programador FPGAs

-Grupo GOO de la Universidad Rey Juan Carlos:

• Laboratorio de Diseño de Circuitos Digitales y Tecnología Electrónica (Red de Laboratorios de la Comunidad de Madrid)
• Microfresadora LPKF ProtoMat C60
• Estación de soldadura JBC y de montaje superficial (SMD). Equipo de inspección óptica con cámara digital. Horno de refusión
• Analizador de parámetros de semiconductores Agilent Technologies 4155C
• Sala Blanca 25 m2, clase 1000-10000, equipada con: Cámara de guantes doble (glove-box) con atmósfera de N2 de MBraun (02 < 0.1 ppm, H20 < 0.1ppm). La cámara tiene integrada una evaporadora de efecto Joule EMITECH 975K, un spinner Karl-Suss y un horno de secado a vacío. Vitrina de gases VA 960 120 Flovigas. Vitrina flujo laminar vertical. Balanza de precisión. UVO Cleaner Jelight. Sistema adicional de spin-coating.
• Espectrómetro por fibra óptica, Ocean Optics 4000.
• Espectroradiómetro CS-2000 de Minolta de alta sensibilidad (0,003 cd/m2) y con capacidad de medida de radiancia espectral.

-Grupo GRIFO de la Universidad de Alcalá :

• Equipo de pulverización catódica (sputtering).

• Sistema de estirado (tapering) de fibra óptica.

• Banco químico para el desarrollo de recubrimientos ópticos.

• Sistemas de medida de constantes ópticas de materiales en el rango de 400 a 3000 nm.

• Láseres sintonizables en banda C y L.

• Analizador de espectros ópticos.

• Equipo de prototipado de circuitos electrónicos.